Zehaztasun Sapphire Leihoa

Optic-well-ek zafiro-leiho sorta zabala eskaintzen du, ez bakarrik Kontsumo Produktuetarako eta Industria Arlorako.Zehaztasun-zafiro-leihoak ere hornitzen ditugu laborategientzat, ikerketa-erakundeentzat, doitasun-tresna optikoen fabrikatzaileentzat.Gure Precision Sapphire Windows erosleak eskaera asko ditu komunean.Hemen zure erreferentziarako zehaztapen garrantzitsu batzuk zerrendatzen ditugu.

Gainazalaren kalitatea:AEBetako MIL-PRF-13830 estandar militarraren arabera, bi zenbaki multzo erabiltzen dira gainazaleko akatsen tamaina adierazteko.Adibidez, erabili lehena 40/20 marratuen tamaina mugatzeko, eta bigarrena zuloen tamaina mugatzeko.Normalean, zehaztasun-zafiro-leihoek gainazaleko kalitatea S/D 60/40 berdina edo handiagoa eskatzen dute

Azalera lautasuna:Gainazalaren lautasuna substratuaren ganbiltasun makroskopikoaren txantiloi estandararekiko desbideratzeari dagokio.Lautasuna neurtutako objektuaren eta txantiloi estandarraren arteko aldaketa-kopurua mugatzen duen indizea da, eta neurtutako objektuen forma-errorea kontrolatzeko erabiltzen da.

Kristal lauak interferometria erabiltzen dugu gure produktuak probatzeko.Kristal lau optikoaren lan-azalera plano ideala islatzeko erabiltzen da, eta interferentzia-lerroaren kurbadura-maila zuzenean erabiltzen da neurtutako gainazalaren lautasun-errorearen balioa zehazteko.Neurtutako objektuaren eta txantiloi estandarraren artean sortutako interferentzia-erren kopurua, kristal lauaren interferometria erabiltzean.Uhin-luzera erdiaren bide optikoaren diferentziak irekidura bat osatzen du, beraz, normalean λ erabiltzen dugu gainazal optikoen gainazal lautasuna adierazteko.λ/10 @633nm egin dezakegun onena.

Paralelismoa:Bi gainazal lauen arteko ziriak esan nahi du.Onena 2 arku segundotan izan daiteke.

Informazio gehiago lortzeko, jarri harremanetan gure saltzaileekin.

Zafirozko zehaztasun-leiho batzuk hornituta dauzkagu, mesedez begiratu hurrengo zerrenda eta jarri gurekin harremanetan erosi nahi badituzu.